紫外、可見(jiàn)、近紅外分光光度計(jì)檢定裝置
通量科技（南通）有限公司在紫外、可見(jiàn)、近紅外分光光度計(jì)檢定裝置的研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中，始終秉持著質(zhì)量至上的原則。公司擁有一支專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和的生產(chǎn)設(shè)備，能夠確保每一臺(tái)檢定裝置都達(dá)到的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，公司還建立了完善的質(zhì)量管理體系和售后服務(wù)體系，能夠?yàn)榭蛻籼峁┑募夹g(shù)支持和售后保障。
氧化鈥濾光片鐠釹濾光片鐠鉺濾光片介質(zhì)膜干涉濾光片低壓汞燈波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)器
可見(jiàn)光區(qū)透射比濾光片 紫外可見(jiàn)光區(qū)透射比濾光片 雜散光標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池
通量科技（南通）有限公司作為精密測(cè)量領(lǐng)域的佼佼者，一直致力于為客戶提供高質(zhì)量的檢測(cè)設(shè)備和解決方案。通量科技生產(chǎn)的紫外、可見(jiàn)、近紅外分光光度計(jì)檢定裝置依據(jù)JJG178紫外、可見(jiàn)、近紅外分光光度計(jì)檢定規(guī)程，推薦標(biāo)準(zhǔn)器配置：
1、波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)-用于檢定校準(zhǔn)分光光度計(jì)紫外可見(jiàn)近紅外光區(qū)波長(zhǎng)示值誤差與重復(fù)性。濾光片外形尺寸：12.7mm*12.7mm*57.0mm。
氧化鈥濾光片
波長(zhǎng)范圍：200nm～700nm；
波長(zhǎng)不確定度：0.3nm(=2)。
鐠釹濾光片
波長(zhǎng)范圍：400nm～900nm；
波長(zhǎng)不確定度：0.3nm(=2)。
鐠鉺濾光片
波長(zhǎng)范圍：300nm～700nm；
波長(zhǎng)不確定度：0.3nm(=2)。
介質(zhì)膜干涉濾光片
標(biāo)稱波長(zhǎng)：450nm、550nm、650nm、750nm；
峰值透射比：＞25%；
半寬度：＜15nm；
峰值波長(zhǎng)不確定度：1.0nm(=2)。
近紅外波長(zhǎng)濾光片
標(biāo)稱波長(zhǎng)：1014.0nm、1357.0nm、1711.0nm、1970.0nm、2325.0nm；
峰值透射比：＞25%；
半寬度：＜15nm；
峰值波長(zhǎng)不確定度：1.0nm(=2)。
低壓汞燈波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)器
波長(zhǎng)范圍：200nm～700nm；
波長(zhǎng)不確定度：0.01nm(=2)；
燈管：Φ10.5mm*110mm/ 120.0mm；
電源外形：115mm*80mm*38mm。
用于檢定/校準(zhǔn)分光度計(jì)200～700nm光譜范圍波長(zhǎng)示值誤差與重復(fù)性。
2、透射比標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)-用于檢定校準(zhǔn)分光光度計(jì)紫外可見(jiàn)光區(qū)透射比示值誤差與重復(fù)性。濾光片外形尺寸：12.7mm*12.7mm*57.0mm。
可見(jiàn)光區(qū)透射比濾光片
透射比標(biāo)稱值：10%、20%、30%；
定值波長(zhǎng)：440.0nm、546.0nm、635.0nm；
透射比不確定度：0.20%(=2)。
紫外可見(jiàn)光區(qū)透射比濾光片
透射比標(biāo)稱值：10%、20%、30%
定值波長(zhǎng)：235.0nm、257.0nm、313.0nm、350.0nm、440.0nm、546.0nm、635.0nm
透射比不確定度：0.30%(=2)
3、雜散光標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)-用于檢定校準(zhǔn)分光光度計(jì)紫外可見(jiàn)光區(qū)的雜散光。
測(cè)試波長(zhǎng)：220.0nm、360.0nm、420.0nm；
截止光區(qū)吸光度：＞3.0；
透光區(qū)平均透射比：＞85.0%。
4、標(biāo)準(zhǔn)石英吸收池-配合液體標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)檢定校準(zhǔn)分光光度計(jì)透射比示值誤差與重復(fù)性。
規(guī)格：10mm；透射比配套誤差：0.2%。
紫外、可見(jiàn)、近紅外分光光度計(jì)檢定裝置作為通量科技（南通）有限公司的明星產(chǎn)品之一，以其的性能、廣泛的適用性和優(yōu)質(zhì)的服務(wù)贏得了客戶的廣泛贊譽(yù)和信賴。在未來(lái)的發(fā)展中，該裝置將繼續(xù)發(fā)揮其在分光光度計(jì)檢定領(lǐng)域的地位，為科研、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等領(lǐng)域提供更加準(zhǔn)確、可靠的測(cè)量數(shù)據(jù)和技術(shù)支持。